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粉體測(cè)試與分析技術(shù)

粉體測(cè)試與分析技術(shù)

定  價(jià):59 元

        

  • 作者:王介強(qiáng)、徐紅燕 等編著
  • 出版時(shí)間:2017/3/1
  • ISBN:9787122289476
  • 出 版 社:化學(xué)工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TB44 
  • 頁(yè)碼:232
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:16開(kāi)
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隨著新材料產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展,各種粉體材料與粉體測(cè)試技術(shù)日益受到人們的關(guān)注。掌握粉體測(cè)試技術(shù)不僅對(duì)開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)各種新型粉體材料具有非常重要的意義,也為能更好地監(jiān)測(cè)大氣中的細(xì)微顆粒物(如PM2.5等)打下堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。本書(shū)對(duì)粉體超細(xì)或納米化后的性能變化及細(xì)微顆粒物的危害性有系統(tǒng)和詳細(xì)的論述。 全書(shū)概念清楚,思路清晰,內(nèi)容全面,易于讀者理解。主要內(nèi)容包括粉體試樣的取樣方法、粉體的表觀特性及其測(cè)試技術(shù)、粉體的密度與測(cè)定、粉體晶態(tài)結(jié)構(gòu)與成分測(cè)試、粉體表面特性及其測(cè)試技術(shù)、粉體顯微分析技術(shù)、粉體的分子光譜測(cè)試與分析、粉體的力學(xué)性能及其評(píng)價(jià)方法、超微粉體理化特性的基本理論、超微粉體的物理特性與測(cè)試、超微粉體的化學(xué)特性與測(cè)試、細(xì)微顆粒物的危害性及其監(jiān)測(cè)等。 本書(shū)既可供粉體材料、無(wú)機(jī)非金屬材料以及化工、環(huán)境保護(hù)等相關(guān)行業(yè)工程技術(shù)人員、科研人員閱讀和參考,也可供在校大專院校有關(guān)專業(yè)師生閱讀和參考。
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