衛(wèi)星環(huán)境工程和模擬試驗(yàn).下
定 價(jià):18.5 元
叢書名:內(nèi)部發(fā)行
- 作者:柯受全主編
- 出版時(shí)間:1996/2/1
- ISBN:9787800348242
- 出 版 社:宇航出版社
- 中圖法分類:V524.3
- 頁碼:15,403頁
- 紙張:膠版紙
- 版次:1
- 開本:32開
《衛(wèi)星環(huán)境工程和模擬試驗(yàn)(下)》概括介紹了空間環(huán)境工程方面的基本概念和工程應(yīng)用。分上、下兩冊(cè),上冊(cè)為空間環(huán)境工程,下冊(cè)為動(dòng)力學(xué)環(huán)境工程。上冊(cè)重點(diǎn)論述衛(wèi)星空間環(huán)境試驗(yàn)中的真空技術(shù)、低溫技術(shù)、太陽輻照技術(shù),空間模擬器設(shè)計(jì),熱控試驗(yàn)方法等。下冊(cè)重點(diǎn)論述衛(wèi)星環(huán)境振動(dòng)、沖擊、聲學(xué)試驗(yàn)方法與測(cè)試技術(shù),結(jié)構(gòu)模態(tài)分析與試驗(yàn)等。
《衛(wèi)星環(huán)境工程和模擬試驗(yàn)(下)》可供從事航天工程與質(zhì)量保證的工程技術(shù)人員閱讀,也可作為高等院校相關(guān)專業(yè)師生的參考書。
第13章 衛(wèi)星動(dòng)力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)
13.1 概述
13.2 衛(wèi)星動(dòng)力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)的設(shè)計(jì)
13.3 環(huán)境預(yù)示和試驗(yàn)條件的制定
13.3.1 環(huán)境預(yù)示方法
13.3.2 試驗(yàn)條件的制定
13.4 動(dòng)力學(xué)環(huán)境的模擬與等效
13.4.1 環(huán)境模擬方法
13.4.2 模擬的等效問題
13.5 試驗(yàn)的實(shí)施
13.6 發(fā)展趨勢(shì)
參考文獻(xiàn)
第14章 衛(wèi)星的振動(dòng)環(huán)境模擬及試驗(yàn)技術(shù)
14.1 概述
14.2 衛(wèi)星的振動(dòng)環(huán)境
14.2.1 振源分析
14.2.2 振動(dòng)環(huán)境效應(yīng)
14.2.3 振動(dòng)環(huán)境預(yù)示
14.3 振動(dòng)環(huán)境模擬試驗(yàn)
14.3.1 振動(dòng)試驗(yàn)?zāi)康?br />
14.3.2 振動(dòng)試驗(yàn)類型
14.3.3 振動(dòng)試驗(yàn)條件
14.3.4 整星正弦掃描振動(dòng)試驗(yàn)條件的修正
14.3.5 模擬隨機(jī)振動(dòng)環(huán)境的正弦掃描振動(dòng)試驗(yàn)條件
14.4 振動(dòng)試驗(yàn)設(shè)備
14.4.1 振動(dòng)臺(tái)
14.4.2 振動(dòng)控制系統(tǒng)
14.4.3 測(cè)振儀器
14.4.4 振動(dòng)試驗(yàn)輔助設(shè)備
14.5 振動(dòng)試驗(yàn)夾具
14.5.1 夾具對(duì)振動(dòng)試驗(yàn)的重要性
14.5.2 夾具設(shè)計(jì)的基本原則
14.5.3 夾具的加工
14.5.4 夾具的固有頻率估算
14.5.5 設(shè)計(jì)步驟與應(yīng)注意的問題
14.5.6 夾具的鑒定
14.6 正弦振動(dòng)試驗(yàn)
14.6.1 常用參數(shù)的換算
14.6.2 試驗(yàn)條件及其容差
14.6.3 試驗(yàn)方法
14.7 隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)
14.7.1 試驗(yàn)條件及其容差
14.7.2 試驗(yàn)方法
14.8 衛(wèi)星整星振動(dòng)試驗(yàn)
14.9 振動(dòng)試驗(yàn)響應(yīng)數(shù)據(jù)處理
14.9.1 正弦掃描振動(dòng)數(shù)據(jù)處理
14.9.2 隨機(jī)振動(dòng)數(shù)據(jù)處理
參考文獻(xiàn)
第15章 衛(wèi)星聲環(huán)境模擬及試驗(yàn)技術(shù)
15.1 概述
15.1.1 衛(wèi)星的聲環(huán)境
15.1.2 衛(wèi)星運(yùn)載火箭的排氣噪聲
15.1.3 衛(wèi)星的氣動(dòng)噪聲
15.1.4 衛(wèi)星的聲環(huán)境模擬
15.2 衛(wèi)星聲環(huán)境的預(yù)示和試驗(yàn)條件
15.2.1 聲環(huán)境預(yù)示方法
15.2.2 聲試驗(yàn)務(wù)件
15.3 衛(wèi)星聲試驗(yàn)裝置
15.3.1 混響試驗(yàn)裝置
15.3.2 行波試驗(yàn)裝置
15.3.3 聲源
15.3.4 氣源
15.3.5 控制設(shè)備
15.4 衛(wèi)星聲試驗(yàn)技術(shù)
15.4.1 混響聲場(chǎng)試驗(yàn)方法
15.4.2 行波聲場(chǎng)試驗(yàn)方法
15.4.3 聲試驗(yàn)的控制技術(shù)
15.5 聲試驗(yàn)的測(cè)試和數(shù)據(jù)處理
15.5.1 聲環(huán)境的參數(shù)測(cè)量
15.5.2 聲環(huán)境參數(shù)的數(shù)據(jù)處理
參考文獻(xiàn)
第16章 衛(wèi)星沖擊環(huán)境模擬及試驗(yàn)技術(shù)
16.1 概述
16.1.1 衛(wèi)星的沖擊環(huán)境
16.1.2 爆炸沖擊環(huán)境的模擬
16.2 衛(wèi)星沖擊環(huán)境預(yù)示與試驗(yàn)條件的制定
16.2.1 環(huán)境預(yù)示
16.2.2 沖擊試驗(yàn)條件的制定
16.2.3 試驗(yàn)條件的容許偏差和其他要求
16.2.4 整星沖擊試驗(yàn)要求
16.3 沖擊試驗(yàn)設(shè)備
16.3.1 落下式?jīng)_擊試驗(yàn)機(jī)
16.3.2 數(shù)控振動(dòng)臺(tái)系統(tǒng)
16.3.3 火工品爆炸沖擊模擬裝置
16.3.4 撞擊式試驗(yàn)裝置
16.4 沖擊試驗(yàn)中的技術(shù)問題
16.5 沖擊試驗(yàn)的數(shù)據(jù)處理
16.5.1 沖擊測(cè)試設(shè)備及其基本要求
16.5.2 數(shù)據(jù)處理
16.5.3 沖擊譜數(shù)字計(jì)算中的參數(shù)選擇
16.6 爆炸沖擊環(huán)境模擬技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)
參考文獻(xiàn)
第17章 衛(wèi)星加速度環(huán)境及其模擬試驗(yàn)
17.1 概述
17.1.1 衛(wèi)星加速度環(huán)境的特點(diǎn)
17.1.2 環(huán)境預(yù)示和試驗(yàn)條件的制定
17.1 _3加速度環(huán)境的模擬
17.2 靜載荷試驗(yàn)
17.2.1 試驗(yàn)?zāi)康暮皖愋?br />
17.2.2 試驗(yàn)設(shè)備
17.2.3 試驗(yàn)技術(shù)
17.2.4 數(shù)據(jù)采集和處理
17.2.5 實(shí)例——通信衛(wèi)星的結(jié)構(gòu)靜栽荷試驗(yàn)
17.3 離心機(jī)試驗(yàn)
17.3.1 離心機(jī)構(gòu)造
17.3.2 試驗(yàn)技術(shù)
17.4 發(fā)射階段的綜合環(huán)境試驗(yàn)
17.4.1 衛(wèi)星發(fā)射階段的綜合環(huán)境
17.4.2 試驗(yàn)設(shè)備
參考文獻(xiàn)
第18章 衛(wèi)星結(jié)構(gòu)模態(tài)試驗(yàn)
18.1 概述
18.2 衛(wèi)星結(jié)構(gòu)模態(tài)試驗(yàn)的理論基礎(chǔ)
18.2.1 多自由度線性結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的運(yùn)動(dòng)方程
……
第19章 衛(wèi)星外伸空間力學(xué)環(huán)境模
實(shí)踐發(fā)現(xiàn),由于需要,許多經(jīng)過鑒定試驗(yàn)的衛(wèi)星也被用來發(fā)射上天,而且都工作正常,可靠性并未降低。因此,國外逐步改變了以前的做法:在一定條件下,允許經(jīng)過鑒定試驗(yàn)后的產(chǎn)品用于飛行,而對(duì)鑒定試驗(yàn)的條件則要作適當(dāng)修改,或降低試驗(yàn)量級(jí),或縮短試驗(yàn)時(shí)間,目的是既達(dá)到鑒定試驗(yàn)的目的,又不過多影響被試產(chǎn)品的有效壽命。這種所謂“原型飛行”(Protoflight)原理的應(yīng)用,對(duì)環(huán)境試驗(yàn)條件乃至整個(gè)環(huán)境試驗(yàn)大綱的制定都產(chǎn)生了一定的影響。目前中國已經(jīng)這樣做了。
另外,為了保證衛(wèi)星的可靠性,先必須對(duì)星上所用電子元器件進(jìn)行極嚴(yán)格的篩選和老練。這種篩選和老練也要通過一定的外加環(huán)境載荷,如振動(dòng)、溫度等來實(shí)現(xiàn)。這也是環(huán)境試驗(yàn)的一種應(yīng)用。在此基礎(chǔ)上,對(duì)衛(wèi)星的部件、組件、分系統(tǒng),直至整個(gè)衛(wèi)星逐級(jí)地進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)。組裝級(jí)別越低,試驗(yàn)條件也就越嚴(yán)格,其目的是使衛(wèi)星存在的隱患盡可能在低的組裝級(jí)上通過環(huán)境試驗(yàn)來暴露和排除,這樣既節(jié)省時(shí)間又減少經(jīng)濟(jì)上的損失。一個(gè)隱藏的缺陷,如果未能在較低的組裝級(jí)上被排除,則在較高的組裝級(jí)排除時(shí)所花的代價(jià)要高得多。據(jù)國外估計(jì),每升高一個(gè)組裝級(jí),排除缺陷所花的代價(jià)將增加十倍。如果使用一個(gè)有隱患的電子元器件而未被及時(shí)發(fā)現(xiàn),則當(dāng)衛(wèi)星總裝好后再來排除它,所要付出的代價(jià)將為原先的一萬倍或更高。
由上所述,環(huán)境試驗(yàn)與衛(wèi)星的研制過程緊密相聯(lián)系,并貫穿在整個(gè)衛(wèi)星的研制過程中。通過逐級(jí)、嚴(yán)格的環(huán)境試驗(yàn),暴露和排除各類故障,而使衛(wèi)星的可靠性不斷增長。
2)根據(jù)環(huán)境預(yù)示結(jié)果確定環(huán)境試驗(yàn)條件。在衛(wèi)星研制開始階段需要提出的環(huán)境設(shè)計(jì)要求和環(huán)境試驗(yàn)條件是以環(huán)境預(yù)示結(jié)果為依據(jù)的。環(huán)境預(yù)示結(jié)果是否正確,是試驗(yàn)條件定得合理與否的重要前提。環(huán)境試驗(yàn)條件定得太嚴(yán),會(huì)使產(chǎn)品因過試驗(yàn)而受到不應(yīng)有的損壞,并不得不修改產(chǎn)品設(shè)計(jì)來通過試驗(yàn),結(jié)果增加研制成本,影響研制進(jìn)度。