高等學校通用教材：系統(tǒng)測試性設計分析與驗證
定 價：45 元
- 作者：田仲 等 著
- 出版時間：2003/4/1
- ISBN：9787810772976
- 出 版 社：北京航空航天大學出版社
- 中圖法分類：N945.17
- 頁碼：415
- 紙張：膠版紙
- 版次：1
- 開本：16開
測試性（testabmty）是使系統(tǒng)和設備的監(jiān)控、測試與診斷簡便而且迅速的一種設計特性，與系統(tǒng)維修性、可靠性和可用性密切相關�！断到y(tǒng)測試性設計分析與驗證》全面介紹了測試性設計分析與驗證的有關理論和方法。內(nèi)容包括：測試性和診斷概念、度量參數(shù)和指標、測試性要求和診斷方案、測試點與診斷策略、指標分配和預計以及測試性設計和驗證等技術及方法。
《系統(tǒng)測試性設計分析與驗證》注意科學性與實用性相結(jié)合，既可作為大專院校相關專業(yè)的教材、參考書，也可作為從事維修性、測試性及測試與診斷等工作的工程技術和研究人員的參考書。
科學技術的進步，特別是計算機技術和大規(guī)模集成電路的廣泛應用，在改善和提高系統(tǒng)、武器裝備性能的同時，也大大增加了系統(tǒng)的復雜性。這勢必帶來測試時間長、故障診斷困難和使用保障費用高等問題，從而引起了人們的高度重視。研究人員展開了大量的系統(tǒng)測試和診斷問題的研究，要求在設計研制過程中使系統(tǒng)具有自檢測和為診斷提供方便的設計特性，即測試性。20世紀80年代以來，測試性和診斷技術在國外得到了迅速發(fā)展，出現(xiàn)了大量的文章和研究報告，頒布了一系列軍用標準，并貫徹到武器系統(tǒng)的研制中，取得了明顯效益。測試性逐步形成了一門與可靠性、維修性并行發(fā)展的學科分支。
測試性是系統(tǒng)和設備的一種便于測試和診斷的重要設計特性，對現(xiàn)代武器裝備及各種復雜系統(tǒng)特別是對電子系統(tǒng)和設備的維修性、可靠性和可用性有很大影響。具有良好測試性的系統(tǒng)和設備，可以及時、快速地檢測與隔離故障，提高執(zhí)行任務的可靠性與安全性，縮短故障檢測與隔離時間，進而減少維修時間，提高系統(tǒng)可用性，降低系統(tǒng)使用保障費用。
測試性研究是一門新興的學科，我國在這方面的研究起步較晚。近些年來，有關部門已經(jīng)開展了不少的研究工作，頒布了測試性軍用標準，在新型號研制中提出了測試性要求，開展了有關設計工作。但總的來說，我國還是處于測試性技術發(fā)展的初級階段，測試性知識尚不普及，教學上缺少教材，工程應用上缺少設計指南，實踐經(jīng)驗也不多。編寫本書的出發(fā)點是為測試性教學和工程應用方面提供參考資料，希望能在促進我國測試性和診斷學科發(fā)展方面做些有益的工作。
第1章 緒 論
1.1 故障、診斷與測試性的基本概念
1.1.1 故障及其后果
1.1.2 故障診斷
1.1.3 測試性和機內(nèi)測試
1.1.4 綜合診斷
1.2 測試性及診斷技術的發(fā)展
1.2.1 由外部測試到機內(nèi)測試
1.2.2 測試性成為一門獨立的學科
1.2.3 綜合診斷、人工智能及cAD的應用
1.2.4 國內(nèi)測試性發(fā)展現(xiàn)狀
1.3 測試性／BIT對系統(tǒng)的影響
1.3.1 對維修性的影響
1.3.2 對可靠性的影響
1.3.3 對可用性和戰(zhàn)備完好性的影響
1.3.4 對壽命周期費用的影響
1.3.5 測試性／BIT影響分析實例
1.4 常用測試性與診斷術語
習 題
第2章 測試性和診斷參數(shù)
2.1 概述
2.2 參數(shù)定義及說明
2.2.1 故障檢測率
2.2.2 關鍵故障檢測率
2.2.3 故障隔離率
2.2.4 虛警率
2.2.5 故障檢測時間
2.2.6 故障隔離時間
2.2.7 系統(tǒng)的故障檢測率和隔離率
2.2.8 不能復現(xiàn)率
2.2.9 臺檢可工作率
2.2.10 重測合格率
2.2.11 誤拆率
2.2.12 BIT／ETE可靠性
2.2.13 BIT／ETE維修性
2.2.14 BIT／ETE平均有效運行時間
2.2.15 虛警與(2ND及RTOK的關系
習題
第3章 測試性設計與管理工作概述
3.1 測試性工作項目及說明
3.1.1 測試性工作項目
3.1.2 測試性工作項目說明
3.1.3 測試性與其他專業(yè)工程的接口
3.2 系統(tǒng)各研制階段的測試性工作
3.2.1 要求和指標論證階段
3.2.2 方案論證和確認階段
3.2.3 工程研制階段
3.2.4 生產(chǎn)階段和使用階段
3.3 測試性設計的目標和內(nèi)容
3.3.1 設計目標
3.3.2 設計內(nèi)容
3.4 測試性設計工作流程
3.4.1 各研制階段測試性工作流程
3.4.2 與系統(tǒng)功能和特性設計并行的測試性設計流程
3.4.3 多級測試性設計流程
3.4.4 UUT測試性與診斷設計流程
3.5 測試性設計工作的評價與度量
3.5.1 測試性設計分析報告
3.5.2 測試性與診斷有效性評價
3.5.3 產(chǎn)品對使用要求的符合性評價
習 題
第4章 測試性與診斷要求
4.1 概述
4.2 確定測試性與診斷要求依據(jù)分析
4.2.1 任務要求分析
4.2.2 系統(tǒng)構(gòu)成特性分析
4.2.3 使用和保障要求分析
4.2.4 可利用新技術分析
4.3 測試性與診斷要求的內(nèi)容
4.3.1 嵌入式診斷要求
4.3.2 外部診斷要求
4.3.3 測試性與診斷定性要求
4.3.4 測試性與診斷定量要求
4.4 系統(tǒng)與產(chǎn)品的測試性要求
4.4.1 系統(tǒng)測試性要求
4.4.2 產(chǎn)品測試性要求
4.5 確定測試性指標的程序和方法
4.5.1 確定測試性要求的程序
4.5.2 測試性參數(shù)的選擇
4.5.3 測試性與可靠性、維修性之間的權衡分析
4.5.4 用類比法確定測試性指標
4.5.5 初定指標的分析檢驗
4.6 診斷指示正確性和BIT影響分析
4.6.1 BIT對可靠性影響分析
4.6.2 BIT對維修性影響分析
4.6.3 診斷指示正確性分析
4.7 測試性／診斷規(guī)范示例
4.7.1 初步系統(tǒng)測試性規(guī)范
4.7.2 系統(tǒng)測試性規(guī)范
4.7.3 CI測試性研制規(guī)范
習 題
第5章 故障診斷方案
5.1 診斷方案的制定程序
5.2 候選診斷方案
5.2.1 確定診斷方案的依據(jù)
5.2.2 診斷方案組成要素
5.2.3 候選診斷方案的確定
5.3 最佳診斷方案的選擇
5.4 權衡分析
5.4.1 定性權衡分析
5.4.2 定量權衡分析
5.5 費用分析
5.5.1 故障診斷子系統(tǒng)費用模型
5.5.2 BIT壽命周期費用增量模型
5.5.3 簡單費用分析舉例
習 題
第6章 測試性與診斷要求分配
6.1 概述
6.1.1 測試性分配的指標
6.1.2 進行測試性分配工作的時間
6.1.3 測試性分配工作的輸入和輸出
6.1.4 測試性分配的模型和要求
6.2 等值分配法和經(jīng)驗分配法
6.2.1 等值分配法
6.2.2 經(jīng)驗分配法
6.3 按系統(tǒng)組成單元的故障率分配法
6.4 加權分配法
6.5 綜合加權分配法
6.5.1 測試性分配模型和工作程序
6.5.2 綜合主要影響因素的加權分配方法
6.5.3 只考慮復雜度時的分配方法
6.5.4 只考慮重要度時的分配方法
6.6 有部分老產(chǎn)品時的分配方法
6.7 優(yōu)化分配方法
6.7.1 優(yōu)化分配的數(shù)學模型
6.7.2 解法介紹
6.7.3 算法及步驟
6.7.4 目標函數(shù)和約束函數(shù)的選擇
6.7.5 應用舉例
習題
第7章 固有測試性設計與評價
7.1 固有測試性設計
7.1.1 劃 分
7.1.2 功能和結(jié)構(gòu)設計
7.1.3 初始化
7.1.4 測試控制
7.1.5 測試觀測
7.1.6 元器件選擇
7.1.7 其他
7.2 測試性設計準則
7.2.1 電子功能結(jié)構(gòu)設計
7.2.2 電子功能劃分
7.2.3 測試控制
……
第8章 測試點與診斷策略
第9章 測試性／BIT設計技術
第10章 BIT虛警問題及降低虛警率方法
第11章 系統(tǒng)測試性與診斷的外部接口
第12章 測試性預計
第13章 測試性驗證與評價
附錄
常用英文縮略語
參考文獻
書單推薦
