第1章 掃描電子顯微鏡
1．1 簡介
1．2 掃描電子顯微鏡的系統(tǒng)組成
1．3 試樣的制備
1．4 掃描電子顯微鏡的基本原理與分析方法
1．5 掃描電子顯微鏡分析示例
1．6 掃描電子顯微鏡技術(shù)的發(fā)展
習(xí)題
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第2章 透射電子顯微鏡
2．1 簡介
2．2 TEM的系統(tǒng)組成及工作原理
2．3 樣品制備技術(shù)（復(fù)型技術(shù)）
2．4 應(yīng)用實(shí)例
2．5 高分辨透射電子顯微鏡簡介與應(yīng)用
習(xí)題
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第3章 X射線光電子能譜
3．1 簡介
3．2 XPS系統(tǒng)組成
3．3 XPS的基本原理
3．4 樣品的制備
3．5 XPS的功能
3．6 XPS的應(yīng)用與實(shí)例解析
習(xí)題
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第4章 俄歇電子能譜
4．1 簡介
4．2 系統(tǒng)組成
4．3 工作基本原理
4．4 樣品的制備
4．5 測試方法
4．6 AES分析方法與應(yīng)用實(shí)例
習(xí)題

第5章 拉曼光譜
5．1 簡介
5．2 系統(tǒng)組成
5．3 工作原理
5．4 樣品的制備
5．5 測試方法
5．6 分析方法與應(yīng)用實(shí)例
習(xí)題
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第6章 掃描隧道電子顯微鏡
6．1 簡介
6．2 系統(tǒng)組成
6．3 基本原理
6．4 測試方法
6．5 應(yīng)用實(shí)例
習(xí)題
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第7章 原子力顯微鏡
7．1 簡介
7．2 AFM的系統(tǒng)組成
7．3 基本原理
7．4 原子力顯微鏡的成像模式
7．5 原子力顯微鏡測試的關(guān)鍵技術(shù)
7．6 應(yīng)用實(shí)例
習(xí)題
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第8章 X射線衍射分析
8．1 簡介
8．2 系統(tǒng)組成
8．3 工作原理
8．4 樣品的制備
8．5 分析方法
8．6 應(yīng)用實(shí)例
8．7 單晶X射線衍射分析
8．8 應(yīng)用實(shí)例
習(xí)題
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第9章 紅外吸收光譜
9．1 簡介
9．2 系統(tǒng)組成
9．3 基本原理
9．4 樣品的制備
9．5 分析方法與應(yīng)用實(shí)例
習(xí)題
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第10章 紫外-可見分光光度法和紫外漫反射光譜
10．1 簡介
10．2 紫外-可見分光光度計(jì)系統(tǒng)組成
10．3 紫外-可見分光光度法的基本原理
lO．4 紫外-可見分光光度計(jì)的測試技術(shù)
10．5 紫外-可見吸收分光光度法的應(yīng)用
10．6 紫外-可見漫反射光譜
10．7 紫外-可見漫反射光譜在催化劑研究中的應(yīng)用
習(xí)題

第11章 分子熒光光譜法
11．1 簡介
11．2 分子熒光光譜儀的組成
11．3 分子熒光光譜儀工作基本原理
11．4 樣品測試分析
習(xí)題
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第12章 X射線熒光光譜
12．1 簡介
12．2 X射線熒光光譜系統(tǒng)組成
12．3 X射線熒光光譜定性和定量分析的基本原理
12．4 X射線熒光光譜分析的樣品制備
習(xí)題
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第13章 核磁共振波譜法
13．1 簡介
13．2 核磁共振系統(tǒng)組成
13．3 基本原理
13．4 樣品的制備
13．5 測試方法
13．6 分析方法
13．7 應(yīng)用實(shí)例
習(xí)題
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第14章 電子順磁共振
14．1 簡介
14．2 ESR的系統(tǒng)組成
14．3 基本原理
14．4 ESR測試方法
14．5 研究對象
14．6 應(yīng)用實(shí)例
習(xí)題

第15章 質(zhì)譜分析法
15．1 簡介
15．2 系統(tǒng)組成
15．3 工作原理
15．4 樣品的制備
15．5 分析方法
15．6 應(yīng)用實(shí)例
習(xí)題
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第16章 熱分析技術(shù)
16．1 簡介
16．2 熱重分析法
16．3 差熱分析法
16．4 差示掃描量熱法
16．5 熱分析應(yīng)用
習(xí)題
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第17章 等離子體發(fā)射光譜
17．1 簡介
17．2 ICP系統(tǒng)組成
17．3 光譜分析的基本原理
17．4 樣品的制備及分析方法
17．5 應(yīng)用實(shí)例
習(xí)題
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第18章 電化學(xué)分析方法
18．1 簡介
18．2 電極交流阻抗法
18．3 金屬腐蝕速率的電化學(xué)測量法
習(xí)題
知識鏈接
習(xí)題答案
參考文獻(xiàn)
名詞索引