"隨著各種高新技術的應用，雷達呈現(xiàn)復雜化、精密化和自動化的發(fā)展趨勢，對其測試性和維修性也提出了更高的要求。在提高雷達測試性和維修性的眾多措施中，機內測試（Built-in Test，BIT）技術是近年來最成功、最有效的技術手段，是復雜電子裝備整體設計、分系統(tǒng)設計、狀態(tài)監(jiān)測、故障診斷、維修決策等方面的關鍵共性技術。在當前雷達BIT技術中，存在狀態(tài)監(jiān)測點設置不合理、監(jiān)測深度不夠、虛警率高等問題，一直阻礙著雷達BIT效能的充分發(fā)揮和更廣泛、更深入的應用。為解決常規(guī)BIT中存在的各種問題，本書將智能BIT技術應用在狀態(tài)監(jiān)測與虛警抑制方面，重點介紹雷達智能BIT技術、雷達狀態(tài)監(jiān)測點的優(yōu)化與診斷策略設計方法、雷達智能BIT整機性能監(jiān)測方法、雷達BIT虛警分析及虛警抑制技術等內容。
本書由長期從事雷達信號處理領域的研究人員編寫，總結凝練了最新科學研究成果。本書的出版，可為該領域的一線科研人員、相關領域的研究者和高校的人才培養(yǎng)提供智力支持，為雷達成像尤其是雙基地ISAR提供理論和技術支撐。"