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高頻電子電路S參數(shù)測量與校準技術(shù) 描述傳輸通道頻域特性的散射參數(shù)(scattering parameter,S參數(shù)),用于表征被測器件線性矢量參數(shù)頻率響應的幅頻與相頻特性,是高頻電子電路中最基本、最常用的核心指標參數(shù)之一。本書以S參數(shù)測量與校準為切入點,以圖文并茂的方式深入淺出地介紹了S參數(shù)的基本概念與發(fā)展歷史、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀結(jié)構(gòu)與工作原理、性能指標解讀與評判、各種S參數(shù)校準、去嵌方法原理與優(yōu)劣、不確定度分析、自動測試技術(shù)、使用技巧和注意事項、行業(yè)最新發(fā)展動態(tài)等,全面總結(jié)了迄今為止各種S參數(shù)校準、去嵌方法的數(shù)學原理及該領(lǐng)域多年發(fā)展成果。 本書適合進行S參數(shù)測試相關(guān)的專業(yè)人士閱讀使用,也適合作為廣大高等院校相關(guān)專業(yè)學生以及企業(yè)、研究機構(gòu)相關(guān)專業(yè)人員的參考書。 本書創(chuàng)新點: ·以國家戰(zhàn)略需求為導向,直面卡脖子痛點和難點 ·作者權(quán)威,在射頻芯片研究領(lǐng)域深耕多年 ·代表我國高精度測量領(lǐng)域高精尖技術(shù)前沿
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