本書是“十一五”國防特色學(xué)科專業(yè)教材《陣列天線分析與綜合》的第2版。本書一方面繼承了第1版的主要內(nèi)容，包括陣列天線的基本概念、直線陣列分析與綜合的基本理論與方法、平面陣列分析與綜合的基本理論與方法以及陣列天線的最優(yōu)化設(shè)計等。另一方面，補充了很多屬于陣列天線分析與綜合理論與技術(shù)的新內(nèi)容，包括非均勻相位激勵分析、掃描線陣之相掃頻掃實現(xiàn)、維倫紐夫（Villeneuve）綜合法、差方向圖的佐洛塔廖夫（Zolotarev）綜合法、平面陣的柵瓣及其抑制條件、平面陣柵格形狀及掃描、平面陣列的性能總結(jié)、賦形方向圖的優(yōu)化綜合——變尺度算法、賦形方向圖的優(yōu)化綜合——歐查德-埃利奧特（ Orchard-Elliott）方法、基于遺傳算法的陣列天線優(yōu)化綜合、基于粒子群算法的陣列天線優(yōu)化綜合等。本書是陣列天線工程應(yīng)用的基礎(chǔ)理論部分，主要側(cè)重于介紹陣列天線分析與綜合設(shè)計中的數(shù)學(xué)方法與實施手段。本書是為電子科學(xué)與技術(shù)、信息與通信工程等學(xué)科領(lǐng)域的工科研究生或高年級本科生編寫的教材，適合于電子信息工程、電子科學(xué)與技術(shù)、通信工程、信息對抗技術(shù)和遙感科學(xué)與技術(shù)等專業(yè)，供“微波天線”“陣列天線分析與綜合”和“陣列天線”課程使用，也可供從事陣列天線研發(fā)的科技人員參考。