“光電技術(shù)”教材分課堂講授部分《光電技術(shù)》和實(shí)驗(yàn)操作指導(dǎo)部分《光電技術(shù)實(shí)驗(yàn)》�！镀胀ǜ咝！笆濉币�(guī)劃教材：光電技術(shù)實(shí)驗(yàn)》是實(shí)驗(yàn)操作指導(dǎo)部分，內(nèi)容由48個(gè)實(shí)驗(yàn)組成，分別歸屬為輻射度量的測(cè)量、光電探測(cè)器、光電弱信號(hào)探測(cè)、光學(xué)調(diào)制器原理及信號(hào)解調(diào)方法、成像器件與系統(tǒng)的性能測(cè)試及信號(hào)處理方法、激光器的參數(shù)測(cè)量及其應(yīng)用、光電技術(shù)設(shè)計(jì)性與綜合應(yīng)用實(shí)驗(yàn)七大部分。
《普通高�！笆濉币�(guī)劃教材：光電技術(shù)實(shí)驗(yàn)》適合于光電信息工程、電子信息工程、應(yīng)用物理、自動(dòng)控制、計(jì)量測(cè)試技術(shù)與儀器、光電檢測(cè)、光學(xué)遙感、測(cè)繪工程等專業(yè)高年級(jí)本科生和研究生使用，也可作為光電信息技術(shù)領(lǐng)域的科研人員和工程技術(shù)人員的參考書。
第一部分 輻射度量的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)1 輻射體光譜能量分布的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)2 法向全發(fā)射率的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)3 法向光譜發(fā)射率的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)4 絕對(duì)反射比的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)5 輻射溫度、亮度溫度和有色溫度的測(cè)量
第二部分 光電探測(cè)器
實(shí)驗(yàn)6 光電探測(cè)器光譜響應(yīng)度的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)7 光電探測(cè)器響應(yīng)時(shí)間的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)8 光電探測(cè)器探測(cè)度的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)9 雪崩光電二極管
實(shí)驗(yàn)10 光電倍增管的靜態(tài)和時(shí)間特性的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)11 光電池的偏置與基本特性的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)12 光電探測(cè)器輸出信號(hào)的信噪比匹配
第三部分 光電弱信號(hào)探測(cè)
實(shí)驗(yàn)13 低噪聲放大器
實(shí)驗(yàn)14 有源濾波器
實(shí)驗(yàn)15 鎖相環(huán)及其應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)16 微弱信號(hào)的鎖定接收法
實(shí)驗(yàn)17 取樣積分原理
實(shí)驗(yàn)18 光電信號(hào)的積累檢測(cè)
實(shí)驗(yàn)19 隨機(jī)共振實(shí)驗(yàn)——用噪聲檢測(cè)弱信號(hào)
實(shí)驗(yàn)20 光子計(jì)數(shù)
第四部分 光學(xué)調(diào)制器原理及信號(hào)解調(diào)方法
實(shí)驗(yàn)21 光學(xué)調(diào)制盤
實(shí)驗(yàn)22 光柵莫爾條紋測(cè)長(zhǎng)原理
實(shí)驗(yàn)23 光電軸角編碼器
實(shí)驗(yàn)24 聲光調(diào)制器
實(shí)驗(yàn)25 電光調(diào)制——激光通信的應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)26 光外差原理
第五部分 成像器件與系統(tǒng)的性能測(cè)試及信號(hào)處理方法
實(shí)驗(yàn)27 CCD轉(zhuǎn)移效率的測(cè)定
實(shí)驗(yàn)28 CCD相機(jī)的空間分辨率和最大作用距離的測(cè)定
實(shí)驗(yàn)29 行掃描裝置掃描參數(shù)的測(cè)定
實(shí)驗(yàn)30 光電信號(hào)的采樣和保持
實(shí)驗(yàn)31 攝像機(jī)信號(hào)的應(yīng)用原理
實(shí)驗(yàn)32 線陣CCD成像傳感器的原理與應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)33 二維光強(qiáng)分布的立體顯示
實(shí)驗(yàn)34 圖像的數(shù)據(jù)采集
第六部分 激光器的參數(shù)測(cè)量及其應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)35 He-Ne激光器的增益系數(shù)測(cè)量
實(shí)驗(yàn)36 He-Ne激光器的模式分析
實(shí)驗(yàn)37 邁克爾遜干涉儀和馬赫-曾德干涉儀
實(shí)驗(yàn)38 光纖全息照相
實(shí)驗(yàn)39 全息高密度信息存儲(chǔ)
實(shí)驗(yàn)40 白光散斑攝影測(cè)量方法
第七部分 光電技術(shù)設(shè)計(jì)性與綜合應(yīng)用實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)41 光電報(bào)警系統(tǒng)設(shè)計(jì)
實(shí)驗(yàn)42 尼柯夫盤掃描成像
實(shí)驗(yàn)43 金屬(鎢)電子逸出功的測(cè)定
實(shí)驗(yàn)44 光電定向
實(shí)驗(yàn)45 激光多普勒測(cè)速
實(shí)驗(yàn)46 莫爾三維測(cè)量
實(shí)驗(yàn)47 激光表面等離子體共振測(cè)量薄膜光學(xué)特性
實(shí)驗(yàn)48 光聲光譜實(shí)驗(yàn)
參考文獻(xiàn)
四、實(shí)驗(yàn)步驟
1．邁克爾遜干涉儀光路的設(shè)置
�、侔磮D37 -1搭建邁克爾遜干涉儀光路，由于使用激光作為光源，因此光路中不必放置補(bǔ)償鏡G。從分束鏡位置開始，確定兩光束的光程基本相等。
注意應(yīng)使光束的光軸與臺(tái)面平行，且兩細(xì)激光束O1、O2疊合良好。這里的關(guān)鍵并不是分束鏡BS的角度與入射光束和反射光束嚴(yán)格成45 °角度嚴(yán)格確定不太容易，關(guān)鍵是兩反射鏡Mi和Mz需嚴(yán)格垂直于其入射光束，使反射光束沿原入射方向反射，這樣就能保證細(xì)激光束O1、O2最終能夠良好地疊合。
�、谠诠饴分兄萌藬U(kuò)束鏡L，使其光軸與疊合后的細(xì)激光束重合。在屏P上觀察等厚干涉條紋。稍微旋轉(zhuǎn)Mi或M2，將兩光束在水平方向稍微分開和合攏，觀察垂直方向平行條紋間距的變化。
�、酃潭ü饴分懈鞴鈱W(xué)元件，用手輕壓光學(xué)平臺(tái)臺(tái)面，觀察干涉條紋的變化；再用手輕敲光學(xué)平臺(tái)臺(tái)面，觀察干涉條紋的跳動(dòng)，并從恢復(fù)時(shí)間來(lái)估計(jì)防震臺(tái)的穩(wěn)定性。
④在Mi或Mz的光路中插入一塊普通玻璃，玻璃面與細(xì)光束垂直。慢慢轉(zhuǎn)動(dòng)玻璃，觀察并解釋條紋的移動(dòng)；再將玻璃轉(zhuǎn)動(dòng)一定的角度，記錄條紋的移動(dòng)數(shù)目，估計(jì)玻璃的厚度。
�、莨潭∕i，記錄下M2的初始位置，將M2沿光束方向向后逐漸移動(dòng)一段距離，觀察干涉條紋對(duì)比度的變化，直到屏P上的條紋消失。測(cè)量M2的當(dāng)前位置，并與M2的初始位置比較，確定所用激光器的相干長(zhǎng)度。
2．馬赫—曾德干涉儀光路
�、俑鶕�(jù)圖37 -2搭建馬赫—曾德干涉儀光路。注意，先不加入準(zhǔn)直透鏡和擴(kuò)束鏡，而是用細(xì)激光束調(diào)節(jié)光路，使兩細(xì)光束呈一小角度會(huì)聚到屏P上，分束鏡和反射鏡盡量在中心區(qū)域通過(guò)細(xì)激光束；再加入準(zhǔn)直透鏡L2，注意使細(xì)激光束透過(guò)準(zhǔn)直透鏡的光軸；最后加入擴(kuò)束鏡Lo，調(diào)節(jié)前后位置獲得平行光輸出。為了濾去擴(kuò)束鏡上的塵埃等臟物所引起的衍射光，可以在擴(kuò)束鏡的焦點(diǎn)處安置一針孔濾波器。
②類似邁克爾遜干涉儀的觀察，微調(diào)節(jié)M：的角度，在光路中插入平板玻璃，輕敲或擲壓臺(tái)面，在平面P上觀察相應(yīng)的干涉條紋的變化和疏密特性。注意與邁克爾遜干涉儀的結(jié)果相對(duì)照。
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