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X熒光勘查技術及其在地質(zhì)找礦中的應用

X熒光勘查技術及其在地質(zhì)找礦中的應用

定  價:228 元

叢書名:高能物理與核應用技術

        

  • 作者:周四春 等
  • 出版時間:2020/9/1
  • ISBN:9787030558510
  • 出 版 社:科學出版社
  • 中圖法分類:O657.34 
  • 頁碼:456
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16
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讀者對象:學習核技術及應用、地球物理勘查、地球化學勘查及地質(zhì)勘查相關專業(yè)的本科生與研究生;從事核分析、地球物理勘查、地球化學勘查及地質(zhì)勘查工作的工程技術人員。

X熒光勘查技術是現(xiàn)場X熒光測試技術與地球化學理論相結(jié)合的成果。該技術應用手提式X熒光儀器為設備,現(xiàn)場快速捕獲找礦信息,并依據(jù)地球化學理論剖析捕獲的找礦信息,以期實現(xiàn)對目標礦產(chǎn)的探尋。該技術的特點是能實時現(xiàn)場獲取找礦信息,對肉眼無法區(qū)分的找礦信息可以定性甚至定量,可顯著縮短找礦周期。本書在系統(tǒng)介紹X熒光勘查技術的物理與地球化學基礎、野外工作方法、數(shù)據(jù)處理與分析解釋的基礎上,給出了在Sr、Au、Cu、Pb、Zn等礦產(chǎn)勘查中的眾多應用實例,對應用X熒光勘查技術找礦的工程技術人員有較好的參考作用。

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