本書重點討論了微電子器件失效機理與溫度的關系、微電子封裝失效機理與溫度的關系、雙極型晶體管和MOS型場效應晶體管電參數與溫度的關系等內容，歸納總結了穩(wěn)態(tài)溫度、溫度循環(huán)、溫度梯度及時間相關的溫度變化對器件可靠性的影響。