1 X射線衍射儀的操作與數(shù)據(jù)測(cè)量
1.1 粉末X射線衍射儀的基本原理與構(gòu)造
1.1.1 X射線發(fā)生器
1.1.2 測(cè)角儀
1.1.3 X射線強(qiáng)度測(cè)量記錄系統(tǒng)
1.2 X射線輻射防護(hù)
1.3 X射線衍射儀使用的注意事項(xiàng)
1.4 多晶衍射樣品的制備方法
1.4.1 塊體樣品的制備
1.4.2 粉末樣品的制備
1.4.3 平板試樣制備的其他問(wèn)題
1.5 測(cè)量方式和實(shí)驗(yàn)參數(shù)的選擇
1.6 Rigaku D/max 2500型X射線衍射儀操作實(shí)例
2 Jade的基本操作
2.1 Jade的功能
2.2 Jade的用戶界面和基本功能操作
2.2.1 窗口功能
2.2.2 菜單功能
2.2.3 主工具欄和編輯工具欄
2.2.4 彈出菜單
2.2.5 基本顯示操作按鈕
2.2.6 狀態(tài)欄
2.3 程序設(shè)置
2.3.1 顯示設(shè)置（Display）
2.3.2 儀器參數(shù)（Instrument）
2.3.3 報(bào)告內(nèi)容設(shè)置（Report）
2.3.4 個(gè)性化設(shè)置（Misc）
2.4 數(shù)據(jù)文件格式與讀入文件
2.4.1 讀入衍射數(shù)據(jù)文件
2.4.2 讀入文件的參數(shù)設(shè)置.
2.5 建立PDF數(shù)據(jù)庫(kù)檢索文件
2.5.1 建立PDF卡片索引的方法
2.5.2 建立ICSD數(shù)據(jù)庫(kù)索引
2.6 尋峰
2.6.1 尋峰操作
2.6.2 尋峰報(bào)告
2.7 圖譜擬合
2.7.1 擬合參數(shù)設(shè)置
2.7.2 手動(dòng)擬合方式
2.7.3 擬合函數(shù)和誤差
2.7.4 擬合整個(gè)衍射譜
2.7.5 單峰擬合
2.7.6 分段擬合
2.7.7 擬合報(bào)告
2.8 打印預(yù)覽
2.8.1安裝打印機(jī)
2.8.2打印預(yù)覽窗口
2.8.3布局設(shè)置
2.9 多譜操作
2.9.1 多譜讀入
2.9.2 多譜操作
2.9.3 多譜比較
2.9.4 多譜顯示與打印
2.9.5 多譜合并
2.9.6 多譜擬合
2.10 根據(jù)d值計(jì)算衍射面指數(shù)
3 物相定性分析
3.1 物相的含義
3.2 物相檢索原理
3.3 ICDD PDF卡片
3.4 PDF卡片的檢索與匹配
3.4.1 物相檢索的步驟
3.4.2 判斷一種物相是否存在的三個(gè)條件
3.5 物相定性分析的實(shí)驗(yàn)方法
3.5.1 圖譜掃描
3.5.2 Jade物相檢索的條件設(shè)置
3.5.3 Search/Match Display 窗口
3.5.4 確定物相
3.5.5 根據(jù)強(qiáng)峰檢索物相
3.5.6 物相檢索結(jié)果的輸出
3.6 物相定性分析方法的應(yīng)用
3.6.1 合金相分析
3.6.2 礦物相分析
3.6.3 其他材料的物相分析
3.7 X射線衍射物相檢索的特點(diǎn)和局限性
3.7.1 粉末法X射線衍射物相檢索的特點(diǎn)
3.7.2 粉末法X射線衍射物相分析的局限性
3.8 指標(biāo)化
3.8.1 指標(biāo)化原理
3.8.2 指標(biāo)化方法的應(yīng)用
3.9 制作自定義PDF卡片
4 物相定量分析
4.1 質(zhì)量分?jǐn)?shù)與衍射強(qiáng)度的關(guān)系
4.2 K值法定量
4.2.1 K值法原理
4.2.2 K值法定量的實(shí)驗(yàn)方法
4.3 絕熱法
4.3.1 絕熱法定量的原理
4.3.2 絕熱法定量的實(shí)驗(yàn)方法
4.4 定量分析方法的應(yīng)用
4.4.1 RIR方法的應(yīng)用
4.4.2 內(nèi)標(biāo)法定量分析的應(yīng)用
4.4.3 物相定量方法的評(píng)價(jià)與使用技巧
4.5 結(jié)晶度計(jì)算方法
4.5.1 物質(zhì)結(jié)晶度的概念
4.5.2 結(jié)晶度的計(jì)算方法
4.5.3 結(jié)晶度計(jì)算方法的應(yīng)用
4.5.4 其他結(jié)晶度的表示方法
5 晶胞參數(shù)的精密化計(jì)算
5.1 晶胞參數(shù)精確計(jì)算的原理與誤差來(lái)源
5.1.1 衍射儀法測(cè)量晶胞參數(shù)的原理
5.1.2 衍射儀測(cè)量晶胞參數(shù)的誤差來(lái)源
5.2 內(nèi)標(biāo)法
5.3 外標(biāo)法
5.3.1 建立角度誤差校正外標(biāo)曲線
5.3.2 外標(biāo)法的應(yīng)用
5.4 晶胞參數(shù)精修的應(yīng)用方法
6 微結(jié)構(gòu)分析
6.1 材料微結(jié)構(gòu)與衍射峰形的關(guān)系
6.1.1 X射線衍射峰的寬度
6.1.2 儀器寬度
6.1.3 物理寬度
6.1.4 樣品物理寬度的求解方法
6.2 微結(jié)構(gòu)計(jì)算方法
6.2.1 晶粒細(xì)化寬化
6.2.2 微觀應(yīng)變寬化
6.2.3 晶粒細(xì)化與微應(yīng)變共同寬化
6.3 測(cè)量?jī)x器半高寬曲線
6.4 微結(jié)構(gòu)分析的應(yīng)用
6.5 峰形分析的參數(shù)設(shè)置
7 殘余應(yīng)力測(cè)量
7.1 殘余應(yīng)力的概念
7.2 殘余應(yīng)力的測(cè)量原理
7.3 實(shí)驗(yàn)方法
7.3.1 樣品準(zhǔn)備
7.3.2 儀器與數(shù)據(jù)測(cè)量
7.3.3 測(cè)量圖譜
7.4 殘余應(yīng)力測(cè)量方法的應(yīng)用
8 Rietveld全譜擬合精修（Jade）
8.1 Rietveld結(jié)構(gòu)精化方法
8.2 全譜擬合精修過(guò)程
8.3 物相的讀入
8.3.1 結(jié)構(gòu)相與非結(jié)構(gòu)相
8.3.2 物相的添加
8.4 全局變量精修
8.4.1 背景精修
8.4.2 樣品和儀器校正
8.5 物相參數(shù)精修
8.5.1 峰形函數(shù)和峰形參數(shù)精修
8.5.2 半高寬精修
8.5.3 其他參數(shù)精修
8.6 晶體結(jié)構(gòu)精修
8.7 精修控制
8.7.1 全局精修控制
8.7.2 物相精修控制
8.8 精修顯示與結(jié)果輸出
8.8.1 精修指標(biāo)
8.8.2 精修報(bào)告
8.8.3 打印精修報(bào)告
8.9 全譜擬合精修的應(yīng)用
8.9.1 晶體物