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失效分析新技術(shù)

失效分析新技術(shù)

定  價:58 元

        

  • 作者:陶春虎 ,等 著
  • 出版時間:2011/11/1
  • ISBN:9787118073911
  • 出 版 社:國防工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TB114.2 
  • 頁碼:331
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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  《失效分析新技術(shù)》簡要介紹了失效分析的歷史發(fā)展,重點介紹了近十年來在材料與結(jié)構(gòu)的損傷行為與損傷的磁記憶檢測、新材料損傷斷裂特征識別、結(jié)構(gòu)的安全和壽命評估、計算機輔助失效分析、斷口定量反推裂紋擴展壽命和應(yīng)力分析技術(shù)、結(jié)構(gòu)件的失效分析、材料和結(jié)構(gòu)的原始疲勞質(zhì)量評估、金屬結(jié)構(gòu)材料的溫色特征、高分子材料和復(fù)合材料的失效分析等領(lǐng)域取得的創(chuàng)新性科研成果。
  《失效分析新技術(shù)》可供從事失效分析的科技人員以及從事斷裂力學(xué)、材料研制、可靠性等方面研究的教師、研究生和工程技術(shù)人員作為參考。
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