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基于語義知識的軟件缺陷分析關(guān)鍵技術(shù)研究

基于語義知識的軟件缺陷分析關(guān)鍵技術(shù)研究

定  價:68 元

        

  • 作者:鄭煒,吳瀟雪,李云帆著
  • 出版時間:2022/2/1
  • ISBN:9787569316865
  • 出 版 社:西安交通大學出版社
  • 中圖法分類:TP311.55 
  • 頁碼:141頁
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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讀者對象:軟件測試研究相關(guān)人員

本書共六章,內(nèi)容包括:軟件缺陷領(lǐng)域命名實體識別方法、DB-CNN-NER重復軟件缺陷報告檢測方法、基于關(guān)鍵詞語義的安全缺陷報告識別方法、基于知識圖譜的跨項目安全缺陷報告預測方法等。
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