在數(shù)字電路的設(shè)計(jì)過程中，仿真與驗(yàn)證是一個(gè)重要的環(huán)節(jié)，它能檢查所設(shè)計(jì)的電路是否符合要求。本書系統(tǒng)介紹了數(shù)字電路仿真與驗(yàn)證的原理與主要方法。全書共11章，內(nèi)容包括：VLsI設(shè)計(jì)的方法與基本流程；電路的邏輯功能模型、結(jié)構(gòu)模型、層次模型等的建立方法；數(shù)字電路的邏輯仿真、高層次仿真、開關(guān)級(jí)仿真；模型檢驗(yàn)；組合電路驗(yàn)證；時(shí)序電路驗(yàn)證；系統(tǒng)芯片SOC的驗(yàn)證；對(duì)邏輯布爾函數(shù)或邏輯電路進(jìn)行有效表示與操作的二元判定圖BDD的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)及其在電路的綜合、驗(yàn)證中的應(yīng)用。 本書可作為電子、計(jì)算機(jī)、通信等專業(yè)高年級(jí)本科生和研究生的教材，也適合于從事數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)、測試和維護(hù)的技術(shù)人員作為參考書。