全書分上下兩篇, 上、下兩篇既獨立成篇又互為聯(lián)系, 隸屬于微電子相關(guān)專業(yè)的知識體系, 其中每篇又由“基礎(chǔ)知識”和“實驗”兩部分構(gòu)成。上篇為“半導(dǎo)體物理實驗”, 分別為構(gòu)建晶體結(jié)構(gòu)、仿真與分析晶體電子結(jié)構(gòu)、單波長橢偏法測試分析薄膜的厚度與折射率、四探針測試半導(dǎo)體電阻率、霍耳效應(yīng)實驗、高頻光電導(dǎo)法測少子壽命、肖特基二極管的電流電壓測試分析、肖特基二極管的勢壘高度和半導(dǎo)體的雜質(zhì)濃度的測試分析、MIS的高頻CV測試。下篇為“微電子器件實驗”, 分別為二極管直流參數(shù)測試、雙極型晶體管直流參數(shù)測試、MOS場效應(yīng)晶體管直流參數(shù)測試、雙極型晶體管開關(guān)參數(shù)測試、雙極型晶體管頻率特性測試。每個實驗均包括學習目標、建議學時、原理、實驗儀器、實驗內(nèi)容、實驗步驟、復(fù)習題, 旨在培養(yǎng)學生的實驗操作技能和實驗思考技能。

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